1. Wprowadzenie do przedmiotu/Zasady stosowania Międzynarodowego Systemu Jednostek Miar SI
2. Zasady i styl wyrażania wartości wielkości fizycznych
3. Rola niepewności pomiaru w orzekaniu zgodności ze specyfikacją
4. Probabilistyczny model procesu pomiarowego, teoria estymacji
5. Przegląd metod przetwarzania A/C
6. Wybrane struktury klasycznych przetworników A/C
7. Nowe techniki przetwarzania analogowo-cyfrowego: przetworniki sigma-delta, potokowe,cykliczne
8. Wybrane struktury przetworników C/A. Cyfrowa generacja sygnałów o zadanym kształcie (Metoda DDS).
9. Pomiary parametrów RLCQDZφ dwójników w równoległym i szeregowym układzie zastępczym
10. Metody pomiarowe impedancji
11. Diagnostyka obiektów technicznych z wykorzystaniem spektroskopii impedancyjnej
12. Identyfikacja parametryczna modeli dwójników
13. Testowanie układów cyfrowych. Metoda analizy sygnatur – szeregowe i równoległe rejestry z liniowym sprzężeniem zwrotnym.
14. Testowanie układów analogowych
15. Metody diagnostyki układów analogowych
- Nauczyciel: Zbigniew Czaja
- Nauczyciel: Michał Kowalewski
- Nauczyciel: Andrzej Kwiatkowski
- Nauczyciel: Grzegorz Lentka
- Nauczyciel: Barbara Stawarz-Graczyk
